Integrated Circuit Test Engineering
Integrated Circuit Test Engineering GROUT, IAN A.
No. da coleção
0
Editorial:
SPRINGER
Ano de edição:
2005
ISBN:
978-1-84628-023-8
EAN
9781846280238
Alto:
235 Alto
Largura:
155Largura
Idioma:
INGLES

COMPRAR ESTE ITEM

93,59 €

IVA incluído

ESGOTADO (entrega estimada em 10 dias)

Comprar

Notificar disponibilidade

Adicionar aos favoritos

Envio grátis!

Se a sua compra exceder 19

Integrated Circuit Test Engineering é do autor GROUT, IAN A.

Integrated Circuit Test Engineering do autor GROUT, IAN A. editado por SPRINGER no ano 2005.

Integrated Circuit Test Engineering tem um código ISBN 978-1-84628-023-8. Neste caso, é o formato papel, mas não temos Integrated Circuit Test Engineering em formato ebook.

Outros livros de