Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Sung-Mo (Steve) Kang
- No. da coleção
- 0
- Editorial:
- SPRINGER
- Ano de edição:
- 1993
- ISBN:
- 978-0-7923-9352-8
- EAN
- 9780792393528
- Coleção:
- The Springer International Series in Engineering and Computer Science
- Alto:
- 235 Alto
- Largura:
- 155Largura
- Idioma:
- INGLES
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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits é do autor Sung-Mo (Steve) Kang
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits do autor Sung-Mo (Steve) Kang editado por SPRINGER no ano 1993.
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits tem um código ISBN 978-0-7923-9352-8. Neste caso, é o formato papel, mas não temos Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits em formato ebook.
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