Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Kwang-Ting (Tim) Cheng

Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Delay Fault Testing for VLSI Circuits Kwang-Ting (Tim) Cheng
Numéro de collection
0
Éditorial:
SPRINGER
Année d'édition:
1998
ISBN:
978-0-7923-8295-9
EAN
9780792382959
Collection:
Frontiers in Electronic Testing
Haute:
235 Haute
Largeur:
155Largeur
langage:
INGLES

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Delay Fault Testing for VLSI Circuits est de l'auteur Kwang-Ting (Tim) Cheng

Delay Fault Testing for VLSI Circuits de l'auteur Kwang-Ting (Tim) Cheng édité par SPRINGER dans l'année 1998.

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